[1]
“Sistema automático de posicionamiento de precisión para escaneo lineal y caracterización de haces de radiación”, Informe Científico Tecnológico, vol. 12, no. 1, pp. 121–124, Feb. 2022, Accessed: Dec. 17, 2025. [Online]. Available: https://ipen.metarevistas.org/index.php/ict/article/view/76