[1]
“Sistema automático de posicionamiento de precisión para escaneo lineal y caracterización de haces de radiación”, Informe Científico Tecnológico, vol. 12, no. 1, pp. 121–124, Feb. 2022, Accessed: Oct. 24, 2026. [Online]. Available: https://ipen.metarevistas.org/index.php/ict/article/view/76